特許
J-GLOBAL ID：200903015449889196
放射線装置の較正方法及び放射線装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
松本 研一
, 小倉 博
, 伊藤 信和
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-558896
公開番号（公開出願番号）：特表2004-528063
出願日： 2001年12月27日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：
【課題】線量計を用いずに放射線装置を較正する。【解決手段】放射線装置は、X線ビームの放射源と、視覚化しようとする臓器をX線ビームが通過した後にこのX線ビームを検出する手段と、画像信号Iを供給することができる画像の収集及び処理手段と、検出手段と接続させた視覚化手段とを備える。ポアソン分布によりそれぞれkNとk2N(Nは検出デバイスの入力面における光子数)に等しいような画像信号の平均m及び分散σ2を計算し、Nの値を、並びにB=f×Nにより係数fの値(fは放射線装置の見掛けのゲイン、Bは画像強度を表す変数である)を導出し、次いで、所定の品質しきい値を満足する画像を出力上で得るために放射線源が放出を要するX線線量の指標を導出する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
X線光子を提供する放射線源と、
その画像を追求しようとする被検体をX線放射が横切った後に該X線放射を検出するための手段と、
一方において画像信号Iを、また他方において当該画像の強度を表す信号Bを供給することができる画像の収集及び処理のための手段と、
前記検出手段に接続した画像の表示手段と、
を備えるタイプの放射線装置を較正する方法であって、較正フェーズの間において、
その画像を構成している点の値Iの分布の平均mと分散σ2であって、ポアソン分布に従ったX線光子の量子ノイズの特性からそれぞれkNとk2N(Nは当該画像の形成に実際に寄与している光子数、またkは較正しようとする装置に固有の未知のゲイン係数)に等しいような平均mと分散σ2をその画像の定義済みゾーンの内部で計算し、これにより較正条件下で係数kの値、Nの値を、またB=f×Nにより係数fの値を導出できるように、指定された条件下で画像を収集するステップと、
出力上で所定の品質しきい値を満足する画像を得るために前記放射線源が放出を要するX線線量の指標を導出するステップと、
を含む方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
A61B6/00 300Z
, A61B6/00 390A
4C093AA01
, 4C093CA06
, 4C093EA11
, 4C093EB28
, 4C093FA05
, 4C093FA18
, 4C093FA59
, 4C093FC11
, 4C093FD03
, 4C093FD09
, 4C093FD13
, 4C093FF28
, 4C093FF34
, 4C093GA01
, 4C093GA06
