特許

J-GLOBAL ID：200903015454507803

半導体集積回路並びにその設計方法及び検査方法

発明者： 竹岡 貞巳 ,  太田 光保
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-347062
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165996
出願日： 1999年12月07日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：

【要約】【課題】 スキャン設計された半導体集積回路の検査時における全動作の電力消費を、誤動作を生じることなく低く抑える。【解決手段】 スキャンチェーン42上の各スキャンフリップフロップ11,12,17,18と、他のスキャンチェーン43上の各スキャンフリップフロップ13,14,15,16とは、互いに組み合わせ回路部40,41を介した接続関係を持たない。スキャンテスト時に、クロック制御部10は両スキャンチェーン42,43にそれぞれ独立に制御されたクロックCK42,CK43を供給し、シフトイン、キャプチャ、シフトアウトのいずれの動作においても、両スキャンチェーン42,43が互いに独立に動作する。

請求項（抜粋）：

組み合わせ回路部と、各々1つ以上のスキャンチェーンから構成された複数のスキャンチェーングループと、前記複数のスキャンチェーングループの各々に供給するクロックを選択的に制御するためのクロック制御部とを備えた半導体集積回路であって、前記複数のスキャンチェーングループの各々は、互いに他のスキャンチェーングループと前記組み合わせ回路部を介した接続関係を持たないか又は接続が所定数以下であることを特徴とする半導体集積回路。

Fターム (5件)：

2G032AC10 ,  2G032AG07 ,  2G032AK15 ,  2G032AK16 ,  2G032AL00