特許
J-GLOBAL ID：200903015472150033
被覆より線の膜厚測定機
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青木 秀實 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-177682
公開番号（公開出願番号）：特開平11-006709
出願日： 1997年06月17日
公開日（公表日）： 1999年01月12日
要約：
【要約】【課題】 表面に凹凸が現れる被覆より線の被覆厚さを非接触で測定できる装置を提供する。【解決手段】 複数の素線をより合わせた芯線の上に形成された被覆の厚さを測定する膜厚測定機において、被覆より線の周囲に配置され、芯線までの距離を計測する電磁気変位計と、電磁気変位計(渦流変位計11〜14)と被覆より線との間隔を測定する間隔測定器21〜24 と、電磁気変位計と間隔測定器との測定結果から被覆の厚さを演算する手段とを有する。電磁気変位計の測定結果から間隔測定器の測定結果を順次減算し、周期的に変化する減算結果の極大点から被覆より線のクラウン部における被覆の厚さを求める。
請求項（抜粋）：
複数の素線をより合わせた芯線の上に形成された被覆の厚さを測定する膜厚測定機において、被覆より線の周囲に配置され、芯線までの距離を計測する電磁気変位計と、電磁気変位計と被覆より線との間隔を測定する間隔測定器と、電磁気変位計と間隔測定器との測定結果から被覆の厚さを演算する手段とを有することを特徴とする被覆より線の膜厚測定機。
引用特許：
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