特許

J-GLOBAL ID：200903015508933692

眼測定装置

発明者： 小早川 嘉 ,  奥村 淑明
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 日比谷 征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-230761
公開番号（公開出願番号）：特開2001-057963
出願日： 1990年03月26日
公開日（公表日）： 2001年03月06日
要約：

【要約】【課題】 被検眼位置と検眼測定の検出を同時に行う。【解決手段】 二次元センサアレイ4上に角膜からの反射像である像Ec" が結像される。このとき、像Ec" は角膜Ecまでの距離が適切でないとすぐにぼけ、作動距離が厳密に一致していないと明瞭に結像しない。二次元センサアレイ4上で眼底からの反射像である6個の光束A〜Fの位置座標から3径線方向の眼屈折値が求められる。一定以上の光度を示す像Ec" が得られると、その瞬間の光束A〜Fを検知し測定することにより、適切な位置合わせがなされたときの測定が実施されることになる。

請求項（抜粋）：

被検眼に光束を投影する光源と、被検眼での前記光束の角膜反射像を二次元センサアレイの所定部位に結像する位置検出光学系と、被検眼での前記光束の反射光を前記二次元センサアレイの前記所定部位の周囲部に結像する検眼光学系と、前記二次元センサアレイの出力を接続する測定手段とを有し、該測定手段は、前記二次元センサアレイの前記所定部位に対応した信号により被検眼の位置合わせ検出を行い、かつ前記二次元センサアレイの前記周囲部に対応した信号により複数の経線方向の検眼測定を行うことを特徴とする眼測定装置。

FI (2件)：

A61B 3/10 M ,  A61B 3/10 W

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭57-025834
  
• 特開昭62-008731
  
• 特開昭63-283620