特許

J-GLOBAL ID：200903015516659850

不揮発性メモリ

発明者： 和久津 俊幸
出願人/特許権者： 富士フイルムマイクロデバイス株式会社 ,  富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 高橋 敬四郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-013835
公開番号（公開出願番号）：特開平8-203292
出願日： 1995年01月31日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：

【要約】【目的】 記憶データの信頼性が高い不揮発性メモリを提供することを目的とする。【構成】 アクセス用データ(4)を記憶することができる複数のメモリ単位を有するユーザメモリ単位(2)と該ユーザメモリ単位内のメモリ単位に置き換えて使用するための予備のメモリ単位を有するリザーブメモリ単位(3)を有するメモリ単位アレイ(1)と、エラー検出用データ(5)を記憶するためのエラー検出用メモリと、外部から供給されるアクセス用データを基にエラー検出用データ(5)を生成し、該アクセス用データをメモリ単位アレイに記憶し、該エラー検出用データをエラー検出用メモリに記憶するための手段と、メモリ単位に記憶されているアクセス用データにエラーが含まれているときにはメモリ単位の置き換えを行う手段(7)とを有する。

請求項（抜粋）：

アクセス用データ(4)を記憶することができる複数のメモリ単位を有するユーザメモリ単位(2)と該ユーザメモリ単位内のメモリ単位に置き換えて使用するための予備のメモリ単位を有するリザーブメモリ単位(3)を有するメモリ単位アレイ(1)と、前記メモリ単位アレイ内のメモリ単位に対応して設けられ、各メモリ単位に記憶されるアクセス用データのエラー検出を行うためのエラー検出用データ(5)を記憶するためのエラー検出用メモリと、外部から供給されるアクセス用データを基にエラー検出用データ(5)を生成し、該アクセス用データを前記メモリ単位アレイに記憶し、該エラー検出用データを前記エラー検出用メモリに記憶するための書き込み手段(7)と、前記エラー検出用メモリに記憶されているエラー検出用データを基に、前記メモリ単位に記憶されているアクセス用データにエラーが含まれているか否かを検出し、エラー検出に基づいて前記メモリ単位アレイ内のメモリ単位を置き換える置き換え手段(7,8)とを有する不揮発性メモリ。

IPC (3件)：

G11C 29/00 301 ,  G06F 12/16 310 ,  G11C 16/06