特許

J-GLOBAL ID：200903015516770077

計測支援装置

発明者： 満仲 俊夫 ,  澤野 裕和 ,  制野 悌夫
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立プロセスコンピュータエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-179783
公開番号（公開出願番号）：特開平9-034870
出願日： 1995年07月17日
公開日（公表日）： 1997年02月07日
要約：

【要約】【目的】種々の前提条件の付与により目的とする環境測定レベルへの改善と維持の程度を定量的に推定することを可能とする。【構成】測定情報は入力装置1を介して処理装置により物理量単位の換算などを行いデータベース3に格納し、表示装置4に結果を表示する。模擬装置7では実現可能な模擬入力情報に対して予め定めたファジィ推論を用いて重み付けを行い、模擬を実行する。

請求項（抜粋）：

1以上の特定物理量の計測結果を取り込み、該取り込んだ計測結果を予め定められた処理を行い格納あるいは該処理結果を表示する測定装置において、実現可能な仮想条件下での入力情報の入力を行う入力部と、該入力情報に対して重み付けを行う評価部とを備えた模擬装置からなることを特徴とする計測支援装置。

IPC (3件)：

G06F 17/00 ,  G01N 35/00 ,  G06F 17/40

FI (3件)：

G06F 15/20 D ,  G01N 35/00 A ,  G06F 15/74 330 B