特許

J-GLOBAL ID：200903015584660360

分光測光装置

発明者： 井上 守人
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-167587
公開番号（公開出願番号）：特開平6-011392
出願日： 1992年06月25日
公開日（公表日）： 1994年01月21日
要約：

【要約】【目的】 試料の透過光や反射光等を同時に多波長で、分光特性を測定する分光測光装置に関し、測定時間の短縮と、所要範囲で分光特性感度を一様にすると共に特性補正の高速化とを実現し得る分光測光装置の提供。【構成】 光束をパルス状に発するキセノンフラッシュランプと、光学系と、回折格子と光検出器を含む分光器と、コントローラ8と、CPU9と、表示系と、からなる分光測光装置において、光検出器が信号電荷を任意に読み出し可能な信号用アドレスデコーダ71と、電荷蓄積部73と、信号の十分なチャンネルを一斉にリセット、または個別にリセットし得るリセット用アドレスラッチ73と、を有する走査型フォトダイオードアレイ7からなることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

光束をパルス状に発する光源と、分散素子と、光検出器と、を含み、同時に多波長の分光測光を行なう分光測光器において、前記光検出器が、任意に信号電荷の選択及び読み出しを行なうための信号アドレスデコーダと、信号の読み出しとは別に信号電荷を一斉にリセットまたは個別にリセットできるリセットアドレスデコーダと、を有する電荷蓄積型光検出器であることを特徴とする分光測光装置。