特許
J-GLOBAL ID:200903015593659782

測距装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 本多 小平 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-028327
公開番号(公開出願番号):特開平9-222322
出願日: 1996年02月15日
公開日(公表日): 1997年08月26日
要約:
【要約】【課題】 装置の小型化を図る測距装置を提供することにある。【解決手段】 被写体側へ発光部2からのスポット光を投光する投光手段と、該被写体からの反射光を複数の受光部8で受光する受光手段とを有し、前記投光手段と前記受光手段とを一定基線長を隔てて配置した測距装置において、前記投光手段と前記受光手段とが隣接に保持され、前記発光部の一端部が前記受光部の前記発光部側の一端よりも受光部中心に近くした。
請求項(抜粋):
被写体側へ発光部からのスポット光を投光する投光手段と、該被写体からの反射光を複数の受光部で受光する受光手段とを有し、前記投光手段と前記受光手段とを一定基線長を隔てて配置した測距装置において、前記投光手段と前記受光手段とが隣接に保持され、前記発光部の一端部が前記受光部の前記発光部側の一端よりも受光部中心に近いことを特徴とする測距装置。
IPC (3件):
G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36
FI (3件):
G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

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