特許
J-GLOBAL ID：200903015601974951
質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-018305
公開番号（公開出願番号）：特開平11-281622
出願日： 1992年01月28日
公開日（公表日）： 1999年10月15日
要約：
【要約】【課題】液体クロマトグラフと静電噴霧イオン源とを直結して、高い流量を導入しても安定してイオンを観測できる静電噴霧イオン源を備えた液体クロマトグラフ・質量分析計を提供する。【解決手段】試料溶液を静電噴霧するための噴霧細管11の中心軸と、生成したイオンを真空部に取り込むためのイオン導入細孔15aの中心軸とを傾けて配置し、噴霧により生成した液滴のうち特に粒径の小さなものだけを真空部に取り込む。【効果】静電噴霧イオン源に毎分数百マイクロリットルの試料溶液を導入でき、液体クロマトグラフと質量分析計とを直結して使用することができる。
請求項（抜粋）：
試料溶液を噴霧細管の一方の端部に導入し、前記噴霧細管の他方の端部から前記試料溶液を静電噴霧させてイオンを生成するための静電噴霧イオン源、生成されたイオンを真空部に導入するためのイオン導入細孔、および前記真空部に導入された前記イオンを質量分析するための質量分析部を備え、前記イオン導入細孔は直径が長さより小さいことを特徴とする質量分析計。
IPC (6件)：
G01N 27/62
, G01N 30/72
, G01N 30/88
, H01J 49/04
, H01J 49/06
, H01J 49/10
G01N 27/62 X
, G01N 30/72 G
, G01N 30/88 J
, H01J 49/04
, H01J 49/06
, H01J 49/10
