特許

J-GLOBAL ID：200903015602343947

光ピックアップ装置の光学部品組付調整方法,レーザユニットの光学部品組付調整方法および光学部品位置ずれ検知装置ならびに光学部品組付装置

発明者： 平井 秀明
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 村山 光威
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-025826
公開番号（公開出願番号）：特開2001-216659
出願日： 2000年02月03日
公開日（公表日）： 2001年08月10日
要約：

【要約】【課題】 半導体レーザの発光点と受光素子の受光部との相対位置、さらにはグレーティングあるいはホログラムなどの光学部品の位置を高精度かつ短時間に位置を合わせて、実装することを可能にする。【解決手段】 半導体レーザ21の発光点位置(チップ面活性層)を、偏光ビームスプリッタ22を介して顕微鏡32およびCCDカメラ33からなる調整光学系により検出し、所定の位置からのずれを算出して半導体レーザ21の並進調整(XY方向位置調整)を行う。すなわち、CCDカメラ33の撮像データを画像処理して検出された発光点位置から算出された半導体レーザ21の位置移動量分だけ、専用アームを用いて半導体レーザ21を移動させる。この位置決め調整の後、接着または半田により半導体レーザ21を基板に固定する。

請求項（抜粋）：

光源からの出射光を光学的記録媒体の記録面に集光させるためのレンズ系と、前記光学的記録媒体からの反射光を検出する受光素子と、前記光源から前記レンズ系へ向かう光路と、前記光学的記録媒体から反射して前記受光素子へ向かう光路とを分離する光路分離素子と、を備えた光ピックアップ装置に用いられる光学部品組付調整方法であって、前記光源または前記受光素子の位置を前記光路分離素子を介して検知し、この検知結果に基づいて当該光源または受光素子の設置位置の調整を行い、当該光源または受光素子を実装することを特徴とする光ピックアップ装置の光学部品組付調整方法。

IPC (3件)：

G11B 7/08 ,  G02B 7/00 ,  G11B 7/22

FI (3件)：

G11B 7/08 A ,  G02B 7/00 H ,  G11B 7/22

Fターム (22件)：

5D117AA02 ,  5D117CC07 ,  5D117HH01 ,  5D117HH02 ,  5D117HH05 ,  5D117HH09 ,  5D117HH10 ,  5D117KK01 ,  5D117KK04 ,  5D117KK17 ,  5D117KK19 ,  5D119AA38 ,  5D119BA01 ,  5D119FA05 ,  5D119JA12 ,  5D119JA14 ,  5D119JA23 ,  5D119JA25 ,  5D119JA43 ,  5D119JC07 ,  5D119KA02 ,  5D119NA02