特許

J-GLOBAL ID：200903015602904884

非可逆回路素子の測定装置及び非可逆回路素子の測定方法

発明者： 川浪 崇
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 森下 武一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-388139
公開番号（公開出願番号）：特開2002-189047
出願日： 2000年12月21日
公開日（公表日）： 2002年07月05日
要約：

【要約】【課題】 非可逆回路素子に損傷を与えることなく、正確に電気特性を測定することが可能で、かつ、自動化に適した非可逆回路素子の測定装置及び非可逆回路素子の測定方法を提供する。【解決手段】 表面実装型非可逆回路素子(アイソレータ)の測定装置1は、概略、ブロック2、ブロック2に設けられたエアシリンダ3a,3b、スライダ4a,4b、端子押さえ爪6a,6b及び測定用回路基板7にて構成されている。ブロック2の中央部には、測定用回路基板7を載置するための水平台座部20を有し、水平台座部20の両端部には、略V字状に配置された一対の傾斜部21a,21bを有している。傾斜部21a,21bの傾斜角θは、30度以上90度未満に設定される。

請求項（抜粋）：

表面実装型非可逆回路素子本体から導出している外部端子を回路基板に押し当てて電気特性を測定する非可逆回路素子の測定装置において、前記外部端子のみを前記回路基板に押し当てる端子押さえ部材を備え、該端子押さえ部材の移動方向が、前記回路基板に対して30度以上90度未満の方向であることを特徴とする非可逆回路素子の測定装置。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  H01P 1/36 ,  H01P 1/383 ,  H01P 11/00

FI (4件)：

G01R 31/00 ,  H01P 1/36 A ,  H01P 1/383 A ,  H01P 11/00 P

Fターム (6件)：

2G036AA19 ,  2G036BB22 ,  2G036CA03 ,  2G036CA12 ,  5J013EA01 ,  5J013FA00