特許
J-GLOBAL ID：200903015646270386
自動オフセツト調整機能付き測定機
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-216012
公開番号（公開出願番号）：特開平5-034145
出願日： 1991年07月31日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：
【要約】【目的】 測定物の表面性状等の状態を検出する測定機において、測定値に付加するオフセット値を自動調整することで、高倍率でもオーバレンジしにくくすると共に、本測定までの段取り時間を短縮し、また測定対象とする物体表面を傷つけないようにする。【構成】 測定物の状態を検出する手段と、この検出手段の検出された出力値にオフセット値を加える手段と、このオフセット値が加えられた検出値を順次サンプリングして処理する手段と、前記オフセット値を自動調整して測定開始時の前記検出値を零にするオフセット調整手段とを備える。
請求項（抜粋）：
測定物の状態を検出する手段と、この検出手段の検出出力にオフセット値を加える手段と、このオフセット値が加えられた検出値を順次サンプリングして処理する手段と、前記オフセット値を自動調整して測定開始時の前記検出値を零にするオフセット調整手段とを備えてなることを特徴とする自動オフセット調整機能付き測定機。
IPC (2件)：
引用特許：
審査官引用 (3件)
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特開昭64-049908
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特開昭56-021043
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特開平3-042508
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