特許
J-GLOBAL ID:200903015652926684
ガス分析計の寿命予測方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
中島 三千雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-012923
公開番号(公開出願番号):特開平5-209858
出願日: 1991年01月09日
公開日(公表日): 1993年08月20日
要約:
【要約】【目的】 電気化学的セルを有するセンサを用いたガス分析計において、センサの残存寿命を予測する。【構成】 センサの経時的な劣化特性を含んだ判定信号を適当な時間間隔において取り出し、この判定信号の経時的変化を近似的に示す回帰関数を求めて、かかる回帰関数に基づいて、前記判定信号が、予め設定されたセンサ寿命と見なされる判定値に達するまでの残存時間を演算することにより、センサの残存寿命を予測する。
請求項(抜粋):
固体電解質体と少なくとも一対の電極とから成る電気化学的セルの少なくとも一つを有するセンサを用い、所定ガス成分を検出するガス分析計において、かかるセンサの寿命を予測する方法であって、前記ガス分析計における、前記センサの経時的な劣化特性を含んだ判定信号を、適当な時間間隔をもって取り出す工程と、かかる判定信号の数:Nが3以上となったとき、該判定信号の経時的変化を近似的に示す回帰関数を、1次〜(N-1)次の関数として、少なくとも2つ以上求める工程と、それら各回帰関数による理論値と実測値との誤差を算出し、かかる誤差が最小となる回帰関数を、寿命判定関数として採用する工程と、前記判定信号が、予め設定されたセンサ寿命とみなされる判定値に達するまでの残存時間を、かかる寿命判定関数により演算予測する工程とを、含むことを特徴とするガス分析計の寿命予測方法。
IPC (2件):
G01N 27/409
, G01N 27/26 391
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