特許

J-GLOBAL ID：200903015809519166

ガス微量成分測定装置

発明者： クリストフ・ブラデン
出願人/特許権者： バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 川原田 一穂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-357685
公開番号（公開出願番号）：特開平5-249059
出願日： 1992年12月25日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：

【要約】【目的】 ガスセンサ内メモリに格納された校正データにより自動校正され、かつ測定値が自動表示されるガス微量成分測定装置を提供する。【構成】 ガス微量成分測定装置は、ガスセンサ2、および表示ユニット8も含む実測機器(電子評価回路)1からなる。測定セル3に加えて、上記ガスセンサ2は上記測定セルに特定のデータが格納される電子不揮発性メモリ4を組み込む。これらのデータは、上記測定機器1のコンピュータ7により読出され、またさらに処理される。従って、上記ガス微量成分測定装置が最初に操作される時には、上記コンピュータ7は、上記メモリ4からの感度およびゼロドリフトを検索して、自動的に上記測定機器を校正することができる。

請求項（抜粋）：

ガスセンサ(2)、および表示ユニット(8)を有する電子評価回路(1)からなるガス微量成分測定装置で、測定セル(3)に加えて、上記ガスセンサ(2)は、記憶セルに特定のデータが格納される電子不揮発性メモリ(4)を含むこと、および上記電子評価回路(1)は、上記測定セルに特定のデータを読出し、またさらに処理するコンピュータ(7)を組み込むことを特徴とするガス微量成分測定装置。

IPC (3件)：

G01N 27/00 ,  G01N 27/04 ,  G01N 27/26 381