特許

J-GLOBAL ID：200903015847931380

記憶装置のバス障害検証方法、及びバス検証装置

発明者： 倉光 亨 ,  平田 敬一郎 ,  木村 健治 ,  志鎌 健
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-349325
公開番号（公開出願番号）：特開2002-149505
出願日： 2000年11月10日
公開日（公表日）： 2002年05月24日
要約：

【要約】【課題】バス障害の検証環境を提供する。【解決手段】インタフェースバスに接続されたホストコンピュータと記憶装置間でのデータの送受信時に、実際に発生する全てのバス障害をバス検証装置で発生させて、記憶装置のバス障害に対する対処方法を検証する。

請求項（抜粋）：

ホストコンピュータと記憶装置を接続するインタフェースバスに、バス検証装置を接続し、バス検証装置のバスモニタ部がインタフェースバスに流れる読み出し・書き込みデータによって変化するバスの制御信号やデータ信号の状態をモニタリングし、バス障害テストに応じたバスの制御信号やデータ信号を検出した場合、バス検証装置のバス障害生成部に於いて、その制御信号やデータ信号を操作することでバス障害を発生させて、記憶装置のバス障害に対する対処方法を検証する記憶装置のバス障害検証方法。

IPC (2件)：

G06F 13/00 301 ,  G06F 3/06 304

FI (2件)：

G06F 13/00 301 X ,  G06F 3/06 304 T

Fターム (12件)：

5B065BA01 ,  5B065CA13 ,  5B065EC02 ,  5B065EC03 ,  5B065EK05 ,  5B065EK07 ,  5B083AA05 ,  5B083BB06 ,  5B083CC10 ,  5B083CC12 ,  5B083EE08 ,  5B083EE11