特許
J-GLOBAL ID:200903015850251358

管内面のスケール厚さ測定方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鵜沼 辰之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-101083
公開番号(公開出願番号):特開平9-287937
出願日: 1996年04月23日
公開日(公表日): 1997年11月04日
要約:
【要約】【課題】 管内面に付着したスケールの厚さが、500μm以下の場合でも、その厚さを正確に計測し得るようにする。【解決手段】 測定しようとするスケール3が付着した管1の内部に超音波を伝播させる水5を充填し、前記管1の外面に接触させた超音波変換器6から管軸線に対して直交する方向へ超音波を発信させ、管内面と該内面に付着したスケールの境界面2において反射した境界面超音波エコー8と前記スケールの内面において反射した内面超音波エコー9との干渉波の形状を測定し、該干渉波の形状変化量によりスケール厚さdを求める。
請求項(抜粋):
測定しようとするスケールが付着した管の内部に超音波を伝播させる媒体を充填し、前記管の外面に接触させた超音波変換器から管軸線に対して直交する方向へ超音波を発信させ、管内面と該内面に付着したスケールの境界面において反射した境界面超音波エコーと前記スケールの内面において反射した内面超音波エコーとの干渉波の形状を測定し、該干渉波の形状変化量によりスケール厚さを求めることを特徴とする管内面のスケール厚さ測定方法。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平3-065608
  • 特開平3-262909
  • 特開平3-065608
全件表示

前のページに戻る