特許
J-GLOBAL ID:200903015923140479

回路素子の定数測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大原 拓也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-319395
公開番号(公開出願番号):特開平6-148245
出願日: 1992年11月04日
公開日(公表日): 1994年05月27日
要約:
【要約】【目的】 被測定試料に対する正弦波測定信号と、A/Dコンバータのサンプリング信号とを完全に同期させ、CPUにてL,C,D,Qなどを演算する際のウィンドウ関数処理などを不要にする。【構成】 基準信号発生手段10からの基準信号を分周回路21,22にてそれぞれ異なる分周比で分周し、その一方の分周回路21にて正弦波発生回路25より正弦波測定信号を発生させて被測定試料DUTに印加するとともに、他方の分周回路22によりA/Dコンバータ28,29のサンプリングクロックを供給する。
請求項(抜粋):
所定周波数の基準信号を発生する基準信号発生手段と、少なくとも1周期分の正弦波データを有し、被測定試料としての回路素子に所定周波数の正弦波測定信号を供給する正弦波発生手段と、上記基準信号を所定の分周比で分周して上記正弦波発生手段に与える第1の分周回路と、上記被測定試料に流れる電流を検出する電流検出回路および同被測定試料の端子間電圧を検出する電圧検出回路と、上記電流検出回路および上記電圧検出回路から出力される検出信号をそれぞれディジタル信号に変換する2つのA/Dコンバータと、上記基準信号を所定の分周比で分周して周波数が上記正弦波測定信号の整数倍となる信号を得、同信号を上記各A/D変換コンバータにサンプリング信号として供給する第2の分周回路と、上記各A/Dコンバータにて変換された電圧データと電流データとから上記被測定試料のL成分、C成分などの定数を演算処理する演算処理手段とを備えていることを特徴とする回路素子の定数測定装置。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-172271
  • 特開平1-167679
  • 特開平4-269663
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