特許
J-GLOBAL ID：200903015930522557
日影の評価方法、および反射光の評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
岡崎 謙秀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-000747
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189603
出願日： 1996年01月08日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 太陽電池を設置する任意の地点の周辺に存在する建造物などの障害物等による日影、および反射光の影響を簡易に評価することのできる日影の評価方法、および反射光の評価方法を提供する。【解決手段】 任意地点において魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像を撮影し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と半球面像とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対象移動させることにより日影の境界線を得ることと反射光の軌跡を得る。
請求項（抜粋）：
任意地点に影響を及ぼす任意地点周辺物による日影を評価する方法であって、任意地点において魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像を撮影し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と前記半球面像とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対象移動させることにより日影の境界線を得ることを特徴とする日影の評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01J 1/02 U
, G01W 1/12 J
