特許

J-GLOBAL ID：200903015944984081

積層セラミックコンデンサの選別方法

発明者： 山下 由起人
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-290331
公開番号（公開出願番号）：特開2000-124088
出願日： 1998年10月13日
公開日（公表日）： 2000年04月28日
要約：

【要約】【課題】 積層セラミックコンデンサの内部電極と外部電極間の接続不完全品を精度良く選別する方法を提供することを目的とする。【解決手段】 誘電体セラミック層と内部電極とを交互に複数層積層し、かつその内部電極の一方の端部を前記誘電体セラミック層を挟んで対向する異なる端面に交互に露出させた積層体の両端面に、内部電極と電気的に接続するように形成した外部電極を備えた積層セラミックコンデンサの被測定物1において、前記外部電極間に交流電圧を少なくとも二サイクル以上印加した後、外部電極間を短絡し蓄えられた電荷を放電させ、次に静電容量選別工程4の静電容量が一定の基準特性値範囲から外れた静電容量小を接続不完全品として選別除去する。

請求項（抜粋）：

誘電体セラミック層と内部電極とを交互に複数層積層し、かつその内部電極の一方の端部を前記誘電体セラミック層を挟んで対向する異なる端面に交互に露出させた積層体の両端面に内部電極と電気的に接続するように形成した外部電極を備えた積層セラミックコンデンサにおいて、前記外部電極間に正負の電圧を交互に印加した後、外部電極間を短絡し蓄えられた電荷を放電させた後に特性検査を行い、一定の基準特性値範囲から外れるものを選別除去する積層セラミックコンデンサの選別方法。

IPC (3件)：

H01G 13/00 361 ,  G01R 31/00 ,  H01G 4/12 364

FI (3件)：

H01G 13/00 361 A ,  G01R 31/00 ,  H01G 4/12 364

Fターム (17件)：

2G036AA04 ,  2G036AA13 ,  2G036AA26 ,  2G036BB02 ,  5E001AB03 ,  5E001AC09 ,  5E001AF06 ,  5E082AB03 ,  5E082BC40 ,  5E082EE23 ,  5E082FG26 ,  5E082JJ03 ,  5E082JJ12 ,  5E082MM35 ,  5E082MM36 ,  5E082MM37 ,  5E082MM38

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 積層セラミックコンデンサの特性選別方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-026388   出願人：松下電器産業株式会社