特許
J-GLOBAL ID:200903015993078754
積層セラミック電子部品
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-365693
公開番号(公開出願番号):特開2003-168622
出願日: 2001年11月30日
公開日(公表日): 2003年06月13日
要約:
【要約】【課題】 誘電体ブロックに及ぼされるストレスによるクラックが発生した際に、内部電極間が短絡状態になることを防止できる積層セラミック電子部品を提供する。【解決手段】 本発明の積層セラミック電子部品10は、外装領域1aに形成した複数の誘電体層21〜22のうち、少なくとも1つの誘電体層21の破断強度が、外装領域1aの他の誘電体層22の破断強度よりも小さいことを特徴とする。
請求項(抜粋):
複数の誘電体層を積層するとともに、該誘電体層間に内部電極を形成した内装領域と、複数の誘電体層から成り、かつ前記内装領域の両側を挟むように配置される外装領域とから成る誘電体ブロックに、該誘電体ブロックの一対の両端部に外部電極を形成した積層セラミック電子部品において、前記外装領域を構成する複数の誘電体層のうち、少なくとも1つの誘電体層の破断強度が、外装領域の他の誘電体層の破断強度よりも小さいことを特徴とする積層セラミック電子部品。
IPC (3件):
H01G 4/30 301
, C04B 35/46
, C04B 35/49
FI (3件):
H01G 4/30 301 E
, C04B 35/46 C
, C04B 35/49 Z
Fターム (21件):
4G031AA08
, 4G031AA11
, 4G031AA12
, 4G031AA19
, 4G031AA21
, 4G031AA26
, 4G031BA09
, 4G031CA03
, 5E082AA01
, 5E082AB03
, 5E082BB01
, 5E082BB07
, 5E082BC14
, 5E082BC39
, 5E082EE04
, 5E082EE23
, 5E082EE35
, 5E082FF05
, 5E082FG46
, 5E082JJ26
, 5E082MM22
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