特許

J-GLOBAL ID：200903016056887244

テスト装置およびテスト方法

発明者： 岩崎 一彦 ,  浅川 毅
出願人/特許権者： 科学技術振興事業団
代理人 (1件)： 橋爪 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-028823
公開番号（公開出願番号）：特開2001-221836
出願日： 2000年02月07日
公開日（公表日）： 2001年08月17日
要約：

【要約】【課題】 必要なハードウェアが少なく、短いテスト長で高い故障カバレージを達成する。【解決手段】 ROM4に格納されたもととなるテストベクトルはベクトル単位で交互に2つのシフトレジスタSR_A2及びSR_B3にシフトインされる。シフトレジスタSR_A2及びSR_B3のベクトルは、LFSR1で生成される擬似ランダムベクトルと交互にマルチプレクサMUX5-1、5-2及び5-3にシフトインされ、互いに多重化される。この多重化されたベクトルは、混在ベクトルであって、マルチプレクサMUX5-1、5-2及び5-mからそれぞれCUT6に印加される。

請求項（抜粋）：

状態遷移をテストするための第1のテストベクトル系列を記憶した記憶部と、前記記憶部に格納される第1のテストベクトル系列が第1及び第2のベクトル単位に分割されてそれぞれ入力され、第1及び第2のベクトルをそれぞれ出力する第1及び第2のベクトル発生部と、擬似ランダムベクトルを出力する第3のベクトル発生部と、前記第1及び第3のベクトル発生部からの出力を混在させ、また、前記第2及び第3のベクトル発生部からの出力を混在させることにより、第2のテストベクトル系列を作成し、被テスト回路に出力する多重部とを備えたテスト装置。

IPC (2件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 V

Fターム (5件)：

2G032AE10 ,  2G032AG01 ,  2G032AK19 ,  9A001BB05 ,  9A001LL05