特許
J-GLOBAL ID:200903016078976402

塩の硫酸イオン含有量分析方法及び分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 平木 祐輔 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-012438
公開番号(公開出願番号):特開平10-206321
出願日: 1997年01月27日
公開日(公表日): 1998年08月07日
要約:
【要約】【課題】 前処理を必要とせず短時間で塩製品の硫酸イオン含有量を分析することのできる方法及び装置を提供する。【解決手段】 赤外分光光度計10により、試料カップ32中の試料33に赤外線を照射し、試料から発生された拡散反射光を集光して、測定波数1110cm-1における拡散反射強度及び参照波数1240cm-1における拡散反射強度を測定する。演算手段20は、参照波数を基準とした時の測定波数の拡散反射強度A[-]と、試料の粒径分布に応じた定数a、bで表される次式に基づいて硫酸イオン含有量C[mg/kg]を演算する。C=a+bA
請求項(抜粋):
塩に赤外線を照射し、参照波数での拡散反射強度を基準とした測定波数での拡散反射強度により硫酸イオン含有量を求めることを特徴とする塩の硫酸イオン含有量分析方法。
引用特許:
審査官引用 (2件)

前のページに戻る