特許
J-GLOBAL ID：200903016099799004
基準濃度点の設定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-277074
公開番号（公開出願番号）：特開平5-091323
出願日： 1991年09月27日
公開日（公表日）： 1993年04月09日
要約：
【要約】【目的】 原画像が有する局部的に明るい部分や暗い部分の影響を軽減できる階調変換曲線を得るための基準濃度点の設定方法を提供することにある。【構成】 原画像を複数のブロックに分割し、個々の濃度が均一で且つ連続している互いに近接したブロック群を検出し(ステップS1)、ブロック群の画素数にこのブロック群のブロック数の逆数に反比例する係数を乗じた状態で原画像全体の累積相対度数ヒストグラムを求め(ステップS2)、この累積相対度数ヒストグラムに基づいて得た仮のハイライト濃度値と仮のシャドウ濃度値を適用する累積濃度値ヒストグラムを作成し(ステップS3)、前記累積相対度数ヒストグラムと累積濃度値ヒストグラムに基づいて階調変換曲線の基準濃度点を求める(ステップ4)。【効果】 原画像に局部的に明るい部分や暗い部分があっても、複製画が暗すぎたり白っぽくなりすぎたりすることがない。
請求項（抜粋）：
階調を有する複製対象原画像を読取って得られた画像データに基づいて、複製に際して階調変換を行うために設定する階調変換曲線が通るべき基準濃度点を設定する方法であって、原画像を複数のブロックに分割する第1の工程と、原画像の画像データに基づいて、各ブロックごとに濃度値とこの濃度値を与える画素数との関係を示すブロック別濃度ヒストグラムを求める第2の工程と、前記画像データに基づいて、それぞれの濃度が均一であり且つ互いの濃度が連続する互いに近接したブロックでなるブロック群を検出する第3の工程と、第3の工程で検出された個々のブロック群中に含まれるブロック数をカウントする第4の工程と、前記ブロック群中に含まれるブロックにおける前記ブロック別濃度ヒストグラムの各階級ごとの画素数に、当該ブロックを含むブロック群のブロック数に反比例する係数を乗じて補正画素数を得る第5の工程と、第5の工程の後、前記各階級ごとに、前記ブロック群中に含まれない全てのブロックの画素数と前記ブロック群中に含まれる全てのブロックの補正画素数とを加算することにより、原画像全体の濃度ヒストグラムを求める第6の工程と、前記原画像全体の濃度ヒストグラムに基づいて累積濃度値ヒストグラムを求める第7の工程と、前記累積濃度値ヒストグラムに基づいて基準濃度点を設定する第8の工程と、を備えることを特徴とする基準濃度点の設定方法。
IPC (2件)：
H04N 1/40 101
, G03F 3/08
