特許
J-GLOBAL ID:200903016208336176

半導体変換装置の素子故障検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山口 巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-221840
公開番号(公開出願番号):特開平6-078544
出願日: 1992年08月21日
公開日(公表日): 1994年03月18日
要約:
【要約】【目的】メッシュ結線のための並列素子間を接続する接続線に流れる電流を計測することにより、部品点数の少ないしたがって信頼性が高くかつ安価に半導体素子の故障を検出する。【構成】並列素子間を互いに接続する接続線21,22に直流変流器31,32を設け、判定手段5によってこれら直流変流器31,32の出力値が所定値を越えたときにどれかの素子が故障したと判定することによって、素子の数よりも少ない直流変流器31,32で全部の素子の故障検出が可能になることから、回路要素数の低減による装置信頼性の向上、コストダウンという効果が得られる。
請求項(抜粋):
直並列接続された半導体素子がメッシュ結線されてなる整流装置の素子故障検出装置であって、メッシュ結線を形成する接続線に直流変流器を設け、これら直流変流器の出力値が所定値を越えたときに故障を生じた半導体素子が存在すると判定する判定手段を備えてなることを特徴とする半導体変換装置の素子故障検出装置。

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