特許

J-GLOBAL ID：200903016234940057

保持具、光学測定装置、及び光学測定方法

発明者： 大谷 正之
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 井上 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-427492
公開番号（公開出願番号）：特開2005-188971
出願日： 2003年12月24日
公開日（公表日）： 2005年07月14日
要約：

【課題】 極めて小さい薄膜フィルタの所定角度での光学特性を測定する為に光学測定装置の所定位置、所定方向に薄膜フィルタを正しくセットする作業の困難性を解決する保持具を提供すること。【解決手段】被測定物が所定角度で当接可能な保持面と、前記保持面に当接させながら前記被測定物を保持する保持手段と、光を放射する光源と、2つの端面を有し、前記一方の端面を前記光源が放射する光が入射する位置に、他方の端面を前記保持面近傍に配置した光ファイバとを具え、前記保持面は、前記他方の端面からの射出光の射出方向に対して所定角度をなして設けられている保持具。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被測定物が所定角度で当接可能な保持面と、 前記保持面に当接させながら前記被測定物を保持する保持手段と、 光を放射する光源と、 2つの端面を有し、前記一方の端面を前記光源が放射する光が入射する位置に、他方の端面を前記保持面近傍に配置した光ファイバとを具え、 前記保持面は、前記他方の端面からの射出光の射出方向に対して所定角度をなして設けられていることを特徴とする保持具。

IPC (5件)：

G01N21/01 ,  B25B11/00 ,  B25J15/06 ,  G01M11/00 ,  G01N21/27

FI (5件)：

G01N21/01 B ,  B25B11/00 A ,  B25J15/06 J ,  G01M11/00 T ,  G01N21/27 Z

Fターム (22件)：

2G059AA02 ,  2G059BB15 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF06 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G086EE05 ,  3C007AS14 ,  3C007DS01 ,  3C007FS01 ,  3C007FT10 ,  3C007KS00 ,  3C007KV13 ,  3C007KX08 ,  3C007KX19 ,  3C007NS10 ,  3C020VV01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 照光装置付設ピンセット
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-309593   出願人：日本航空電子工業株式会社