特許

J-GLOBAL ID：200903016294204309

光学的測定装置

発明者： 菱刈 功 ,  石毛 光雄
出願人/特許権者： 株式会社チノー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-208079
公開番号（公開出願番号）：特開平8-054264
出願日： 1994年08月09日
公開日（公表日）： 1996年02月27日
要約：

【要約】【目的】被測定対象の複数の性状を1個の装置で同時に測定する。【構成】被測定対象3からの放射エネルギーのうち、水分に吸収されない第1の測定波長、水分に吸収される第2の測定波長、可視光領域の第3の測定波長の各波長に分離する回転セクタ5のような分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長成分のすべてを測定することができるInGaAs素子よりなる検出素子6と、この検出素子の出力信号のうち第1の測定波長成分を基準とし、この第1の測定波長成分に対応した信号e1から坪量または厚み、第2の測定波長成分に対応した信号e2と第1の測定波長成分に対応した信号e1の比から水分率、第3の測定波長成分e3に対応した信号と第1の測定波長成分に対応した信号e1の比から色あい等のその他の性状を測定する演算手段91、92とを備える。

請求項（抜粋）：

被測定対象からの放射エネルギーのうち、水分に吸収されない第1の測定波長、水分に吸収される第2の測定波長、可視光領域の第3の測定波長の各波長に分離する分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長成分のすべてを測定することができるInGaAs素子よりなる検出素子と、この検出素子の出力信号のうち第1の測定波長成分を基準とし、この第1の測定波長成分に対応した信号から坪量または厚み等の材質、第2の測定波長成分に対応した信号と第1の測定波長成分に対応した信号の比から水分率、第3の測定波長成分に対応した信号と第1の測定波長成分に対応した信号の比から色あい等の性状を測定する演算手段とを備えたことを特徴とする光学的測定装置。

IPC (4件)：

G01D 21/02 ,  G01B 11/06 ,  G01J 3/46 ,  G01N 21/35

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 粒状物の水分計測方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-335217   出願人：財団法人雑賀技術研究所
• 特開平4-286939
  
• 特開昭61-209340