特許

J-GLOBAL ID：200903016310958378

基板検査用カメラの照明装置

発明者： 石川 弘高
出願人/特許権者： 日置電機株式会社
代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-155875
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332792
出願日： 1997年05月29日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 検査対象の回路基板上における照度むらを低減可能な基板検査用カメラの照明装置を提供することを目的とする。【解決手段】 検査対象の回路基板2を垂直方向から撮影可能な基板検査用カメラ32の視野範囲を照射するための照射手段34a〜34dを備え、回路基板2におけるX-Y方向に移動自在な移動体6a,6bに基板検査用カメラ32と共に固定されている基板検査用カメラの照明装置4a,4bにおいて、回路基板2に対して垂直方向に出射された照射手段34a〜34dの直接光を遮光すると共に回路基板2に対して斜め方向に出射された照射手段34a〜34dの直接光を通過可能な遮光手段35a,35bを備えている。

請求項（抜粋）：

検査対象の回路基板を垂直方向から撮影可能な基板検査用カメラの視野範囲を照射するための照射手段を備え、前記回路基板におけるX-Y方向に移動自在な移動体に前記基板検査用カメラと共に固定されている基板検査用カメラの照明装置において、前記回路基板に対して垂直方向に出射された前記照射手段の直接光を遮光すると共に当該回路基板に対して斜め方向に出射された当該照射手段の直接光を通過可能な遮光手段を備えていることを特徴とする基板検査用カメラの照明装置。

IPC (6件)：

G01R 31/28 ,  G01N 21/84 ,  G01N 21/88 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/02 ,  H05K 13/08

FI (6件)：

G01R 31/28 K ,  G01N 21/84 E ,  G01N 21/88 F ,  G01R 1/06 E ,  G01R 31/02 ,  H05K 13/08 Q

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-212047
  
• 被検査物の表面性状観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-147101   出願人：日本精工株式会社
• データシンボル読み取り装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-261845   出願人：旭光学工業株式会社
• 特開平4-212047