特許
J-GLOBAL ID：200903016310980543
計数率測定用放射線モニタ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-231571
公開番号（公開出願番号）：特開2001-056380
出願日： 1999年08月18日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：
【要約】【課題】 突発的に放射線パルスが入射した場合においても、計数率が受ける影響を緩和し、もって、計数率が低い測定条件であっても計数率の演算精度の低下を抑制することができる計数率測定用放射線モニタを提供すること。【解決手段】 所定のサンプリング周期毎に、放射線を計数して単位時間当たりの放射線数を示す計数率を求める計数率測定用放射線モニタにおいて、放射線を検出する放射線検出手段1と、放射線検出手段1によって検出される連続したサンプリング周期における放射線の計数値と、連続したサンプリング周期とから、計数値の変化率を算出し、この算出された変化率が所定の値以上の場合に、所定の値を用いて計数値を補正し、この補正された計数値を用いて計数率を算出する計数率演算手段10とを備えること。
請求項（抜粋）：
所定のサンプリング周期毎に、放射線を計数して単位時間当たりの放射線数を示す計数率を求める計数率測定用放射線モニタにおいて、放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段によって検出される連続したサンプリング周期における放射線の計数値と、前記連続したサンプリング周期とから、前記計数値の変化率を算出し、この算出された変化率が所定の値以上の場合に、前記所定の値を用いて前記計数値を補正し、この補正された計数値を用いて前記計数率を算出する計数率演算手段とを備えたことを特長とする計数率測定用放射線モニタ。
Fターム (4件)：
2G088EE06
, 2G088KK13
, 2G088KK24
, 2G088LL18
