特許
J-GLOBAL ID：200903016405297395
放射率と表面温度の同時測定方法および該方法に使用する装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井内 龍二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-016662
公開番号（公開出願番号）：特開平5-209792
出願日： 1992年01月31日
公開日（公表日）： 1993年08月20日
要約：
【要約】【構成】 所定強度の平行な光を被測定物11の表面に所定角度傾けて照射し、被測定物表面表面12に対する法線と照射方向との同一平面内で法線に対して照射方向と線対称になり、しかも被測定物11の表面12から所定の距離になる位置で反射光量と熱放射光量の1次元的な分布を測定する。反射光量分布から反射率を求め、次に反射率との関係から放射率を算出し、放射率と測定した熱放射光量とから表面温度を求める放射率と表面温度の同時測定方法。【効果】 従来の方法では不十分であった拡散反射性の高い被測定物表面12の放射率が正確、簡単、迅速に得られ、放射率が変化し、しかも高速で移動する被測定物表面12の温度を測定できる。
請求項（抜粋）：
所定の強度を有する平行光束を被測定物の表面に対して所定角度傾けた照射方向から照射するとともに、前記被測定物表面に対する法線と前記照射方向とを含む平面内で前記法線に対して前記照射方向と線対称な方向でかつ前記被測定物表面から所定の距離において前記被測定物表面からの反射光量および熱放射光量の1次元的な分布を測定し、前記反射光量分布から前記被測定物表面の反射率を求め、該反射率と放射率との間の関係から前記被測定物表面の放射率を算出し、該放射率と前記熱放射光量とから被測定物表面の温度を求めることを特徴とする放射率と表面温度の同時測定方法。
引用特許：
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