特許
J-GLOBAL ID：200903016516124368
光フィルタ周波数特性測定回路および光フィルタ周波数特性測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
本間 崇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-218435
公開番号（公開出願番号）：特開平8-082574
出願日： 1994年09月13日
公開日（公表日）： 1996年03月26日
要約：
【要約】【目的】 超高速光ソリトン伝送においての光フィルタの測定法に関し、光フィルタの中心周波数における曲率特性を高い精度で測定する方法の実現を目的とする。【構成】 波長可変光源と、該波長可変光源の波長を測定する波長計と、上記波長可変光源の出射光をFM変調器に結合する手段と、該FM変調器の出力を被測定光フィルタに結合する手段と、上記被測定光フィルタに結合して光信号を電気信号に変換する受光器と、該受光器により変換された電気信号を同期検波する同期検波器と、前記FM変調器を駆動すると共に、同期検波器へ与える正弦波電気信号を発生する発振器とにより構成する。
請求項（抜粋）：
波長可変光源と、該波長可変光源の波長を測定する波長計と、上記波長可変光源の出射光をFM変調器に結合する手段と、該FM変調器の出力を被測定光フィルタに結合する手段と、上記被測定光フィルタに結合して光信号を電気信号に変換する受光器と、該受光器により変換された電気信号を同期検波する同期検波器と、前記FM変調器を駆動すると共に、同期検波器へ与える正弦波電気信号を発生する発振器とより成ることを特徴とする光フィルタ周波数特性測定回路。
引用特許：
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