特許

J-GLOBAL ID：200903016612403740

発光による試料の測定方法及び装置

発明者： 榊原 達哉 ,  五十嵐 俊教 ,  村上 成治 ,  羽毛田 靖
出願人/特許権者： キッコーマン株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-362071
公開番号（公開出願番号）：特開2000-245500
出願日： 1999年12月21日
公開日（公表日）： 2000年09月12日
要約：

【要約】【課題】小型で安価な汚れの測定装置を提供する。【解決手段】拭取検査用器具の収納室9、該収納室9におかれた拭取検査用器具による発光を受光するシリコンホトダイオード5、及び該シリコンホトダイオード5からの信号を電気的に処理をする演算装置46で汚れの測定装置1を構成し、汚れをPPDK等のATP再生酵素を含有する発光試薬により発光させその発光量をシリコンホトダイオード5により測定する。

請求項（抜粋）：

アデノシンリン酸エステル類を、ATP再生酵素を含有する発光試薬により発光させ、その発光量をシリコンホトダイオードにより測定することを特徴とする発光による試料の測定方法。

IPC (3件)：

C12Q 1/48 ,  C12M 1/26 ,  C12M 1/34

FI (3件)：

C12Q 1/48 Z ,  C12M 1/26 ,  C12M 1/34 E

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 生物発光試薬及びその試薬を用いたアデノシンリン酸エステルの定量法並びにその試薬を用いたATP変換反応系に関与する物質の定量法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-070911   出願人：キッコーマン株式会社