特許

J-GLOBAL ID：200903016620413495

磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに電磁波源探索方法及び装置並びに記憶媒体

発明者： 平井 宏治
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-001480
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194435
出願日： 2000年01月07日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：

【要約】【課題】 不要電磁波の放射源を推定することができる磁界分布測定装置を提供する。【解決手段】 電磁波源の磁界を測定する磁界センサ102と、磁界センサ102を被測定物106の近傍で駆動する駆動部101と、駆動部101を制御する制御部110と、磁界センサ102の測定値を演算処理する演算処理部108と、測定結果を表示する表示部109とを有する。

請求項（抜粋）：

電磁波源の磁界を測定する磁界センサであって、互いに垂直に配置されている複数の同一特性のループを、終端抵抗を介して並列接続してなることを特徴とする磁界センサ。

IPC (2件)：

G01R 33/02 ,  G01R 29/08

FI (2件)：

G01R 33/02 B ,  G01R 29/08 D

Fターム (4件)：

2G017AA08 ,  2G017AD04 ,  2G017BA15 ,  2G017BA16