特許

J-GLOBAL ID：200903016636936412

測距方法および測距装置

発明者： 日野 政典
出願人/特許権者： 北陽電機株式会社
代理人 (6件)： 江原 省吾 ,  田中 秀佳 ,  白石 吉之 ,  城村 邦彦 ,  熊野 剛 ,  山根 広昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-083507
公開番号（公開出願番号）：特開2007-256191
出願日： 2006年03月24日
公開日（公表日）： 2007年10月04日
要約：

【課題】トリガ信号と受光信号に基づいて測定対象物までの距離を高精度に計測する。【解決手段】制御部6でトリガ信号S1を生成する。このトリガ信号S1を起点として投光部2からパルス光S4を測定対象物に対して出射し、測定対象物で反射したパルス光S3を受光部3で受光して受光信号S4を生成する。合成回路4でトリガ信号S1と受光信号S4を単一の時間軸に沿って連続する一の信号に合成しなる合成信号S5を生成する。この合成信号S4におけるトリガ信号S1および受光信号S4の時間軸上での位置に基づいて測定対象物までの距離を演算する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

トリガ信号を生成すると共に、該トリガ信号を起点として投光部からインパルス光を出射する出射工程と、 前記投光部から出射され測定対象物で反射した前記インパルス光を受光部で受光して受光信号を生成する受光工程と、 前記トリガ信号と前記受光信号を単一の時間軸に沿って連続する一の信号に合成してなる合成信号を生成する合成工程と、 該合成信号における前記トリガ信号および前記受光信号の前記時間軸上での立ち上がり位置に基づいて前記測定対象物までの距離を演算する演算工程を含むことを特徴とする測距方法。

IPC (3件)：

G01S 17/10 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/89

FI (4件)：

G01S17/10 ,  G01C3/06 120Q ,  G01C3/06 140 ,  G01S17/89

Fターム (45件)：

2F112AD01 ,  2F112BA06 ,  2F112CA12 ,  2F112DA09 ,  2F112DA15 ,  2F112DA25 ,  2F112DA26 ,  2F112DA28 ,  2F112EA05 ,  2F112EA11 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA09 ,  2F112FA21 ,  2F112FA27 ,  2F112FA29 ,  2F112FA32 ,  2F112FA41 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA11 ,  5J084BA36 ,  5J084BA49 ,  5J084BA51 ,  5J084BA56 ,  5J084BB28 ,  5J084CA03 ,  5J084CA12 ,  5J084CA23 ,  5J084CA25 ,  5J084CA26 ,  5J084CA32 ,  5J084CA43 ,  5J084CA44 ,  5J084CA45 ,  5J084CA49 ,  5J084CA52 ,  5J084CA70 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084EA04 ,  5J084EA05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許5455669号公報