特許

J-GLOBAL ID：200903016654049091

検査システム及びプリント回路板の外観検査システム並びにプリント回路板の外観検査端末装置

発明者： 飯田 光浩 ,  小柳 恵介 ,  佐々木 克直
出願人/特許権者： 株式会社ピーエフユー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-168701
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014552
出願日： 1997年06月25日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】 複数の検査工程を経る検査において、検査精度を高めるとともに、各検査工程における検査時間のバラツキを無くし、検査工程の管理も含めて検査効率を向上させる、検査システム及びプリント回路板の外観検査システム並びにプリント回路板の外観検査端末装置を提供する。【解決手段】 複数の検査端末装置がネットワークを介してサーバーに接続された検査システムであって、各検査工程にて検査される検査データを、サーバーの検査データ格納部に初期に登録された検査データから、前工程で不合格となった検査データのみを次工程へ送信して検査を行う。

請求項（抜粋）：

複数の検査端末装置(2)がネットワーク(3)を介してサーバー(4)に接続された検査システムであって、各検査工程にて検査される検査データを、サーバー(4)の検査データ格納部(5)に初期に登録された検査データから、前工程で不合格となった検査データに基づいて検査を行う、ことを特徴とする検査システム。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  H05K 13/08 ,  G01R 31/02

FI (3件)：

G01N 21/88 F ,  H05K 13/08 D ,  G01R 31/02

引用特許：

審査官引用 (4件)

• プリント板ユニット外観検査システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-222871   出願人：富士通株式会社
• 特開昭63-175774
  
• 超小型近接撮影装置を用いたIC観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-055446   出願人：株式会社ハイロックス
• 特開昭57-102607