特許
J-GLOBAL ID:200903016663294147

磁性粒子の蓄積の測定方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石川 徹 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-542201
公開番号(公開出願番号):特表2003-515743
出願日: 2000年11月29日
公開日(公表日): 2003年05月07日
要約:
【要約】【課題】 一群の磁性粒子(11)を定量的に測定する装置を提供する。【解決手段】 該粒子(11)は測定すべき物質と複合化しており、かつ、磁場によって励磁される。磁気粒子の磁化によりそれ自身の磁場を創造する双極子の様式により励磁周波数で変動を生じる。該場は磁場傾斜度計に構成されるよう組み立てられているセンシングコイル(43)のように、少なくとも一のセンサーと導電性の結合をしている。該センシングコイル(43)からの出力シグナルは、適当に増幅され、かつ、処理されて有用な出力表示(67)を提供する。
請求項(抜粋):
検体粒子及び磁気感応性粒子の組み合わせを含むサブナノグラム試料の定量的磁気測定が可能で、規定のパターンに配置され、複数の試料を含みうる試料ホルダに試料が配置されている装置であって:該試料に交流磁場をかける磁場源、該磁場源は試料ホルダを配置することができる間隙を規定しており;試料からの誘導された磁気モーメントを検出するための実質的に平坦な磁場センサ、該センサに対する磁場源の関与を実質的に排除できるように形成され、かつ配置されており、該磁場センサは出力シグナルを伝達する出力口を有し、該磁場センサは磁場源の間隙中に実質的に配置されており;及び磁場センサからの出力シグナルを処理し、該パターンにおいてサンプルの量のシグナル表示を提供する電子シグナル処理装置を有する前記装置。
IPC (2件):
G01N 27/72 ,  G01N 33/483
FI (2件):
G01N 27/72 ,  G01N 33/483 E
Fターム (23件):
2G045AA01 ,  2G045CB01 ,  2G045CB03 ,  2G045DA13 ,  2G045DA36 ,  2G045FA36 ,  2G045GC30 ,  2G053AB01 ,  2G053BA04 ,  2G053BB03 ,  2G053BB04 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC05 ,  2G053CA03 ,  2G053CA05 ,  2G053CB12 ,  2G053CB17 ,  2G053DA07 ,  2G053DB02 ,  2G053DB11 ,  2G053DB12 ,  2G053DB19

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