特許
J-GLOBAL ID:200903016762674270

光ファイバを試験するための電磁パルス列の生成

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 曾我 道照 (外7名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-576254
公開番号(公開出願番号):特表2002-527739
出願日: 1999年10月07日
公開日(公表日): 2002年08月27日
要約:
【要約】本発明は、試験システムおよび方法と、発生器(2)と該発生器(2)によって発生した電磁パルスを伝送することができる光ファイバ(F)とを備える電磁パルスを放出する装置に関する。本発明は、該装置(1A)が、さらに光ファイバ(F)によって伝送される入射電磁パルスの経路上に配置され、かつ、第1の部分反射ミラー(M1A)を設けられた入力と第2の部分反射ミラー(M2A)を設けられた出力とを備えている少なくとも1つの光キャビティ(3A)を備えており、該ミラーが、光キャビティ(3A)出力において1つの入射電磁パルスからその幾何学的限界特性が可変である放射電磁パルス列を生成するよう配置されていることを特徴とする。
請求項(抜粋):
電磁パルスを放出するエミッタであって、 少なくとも1つの電磁パルスを発生させる発生器(2)と、 放出する目的で該発生器(2)によって発生した電磁パルスを伝送することができる少なくとも1つの光ファイバ(F)と、を備えるエミッタにおいて、更に少なくとも1つの光キャビティ(3A,3B,3C,3D)を含み、該光キャビティは、 前記光ファイバ(F)によって伝送される入射電磁パルスの経路に配置されており、 第1の部分反射ミラー(M1A,M1B,M1C,M1D)を設けられた入力と第2の部分反射ミラー(M2A,M2B,M2C、M2D)を設けられた出力とを有し、該第1および第2のミラーが、該光キャビティ(3A,3B,3C,3D)の出力において、1つの入射電磁パルスから、可変の幾何学的特性を有しかつ該入射電磁パルスに関連する放出電磁パルス列を生成するよう配置されることを特徴とするエミッタ。
FI (3件):
G01M 11/02 K ,  G01M 11/02 J ,  G01M 11/02 N
Fターム (1件):
2G086KK01
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (5件)
  • 特開平3-185429
  • 特開平3-185429
  • 光共振器および光周波数掃引光源
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-262130   出願人:日本電信電話株式会社
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引用文献:
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