特許

J-GLOBAL ID：200903016776873178

吸収率測定機

発明者： 大内 千種 ,  長谷川 雅宣
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-082345
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277417
出願日： 2001年03月22日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：

【要約】【課題】 光学部材の吸収率を高い精度で測定することができる吸収率測定機を得ること。【解決手段】 光源手段からの光でサンプルを照射及び照射を停止したときに、該サンプルを保持しているサンプルホルダに生じた温度変化を温度センサーで測定することにより、該サンプルの該光に対する吸収率を測定する吸収率測定機において、該サンプルと同材料で同形状の基板に電気抵抗が既知の電熱ヒータを付加した基準発熱器を設け、該基準発熱器に与える熱量より該測定機の温度変化に関する定数を求め、該定数を用いて吸収率を求めるコンピュータを有していること。

請求項（抜粋）：

光源手段からの光でサンプルを照射及び照射を停止したときに、該サンプルを保持しているサンプルホルダに生じた温度変化を温度センサーで測定することにより、該サンプルの該光に対する吸収率を測定する吸収率測定機において、該サンプルと同材料で同形状の基板に電気抵抗が既知の電熱ヒータを付加した基準発熱器を設け、該基準発熱器に与える熱量より該測定機の温度変化に関する定数を求め、該定数を用いて吸収率を求めるコンピュータを有していることを特徴とする吸収率測定機。

IPC (2件)：

G01N 25/18 ,  G01M 11/02

FI (2件)：

G01N 25/18 Z ,  G01M 11/02 Z

Fターム (9件)：

2G040AA01 ,  2G040AB08 ,  2G040CA02 ,  2G040EA02 ,  2G040EA06 ,  2G040EC02 ,  2G040EC04 ,  2G040EC06 ,  2G040HA05