特許
J-GLOBAL ID:200903016787732533
サンプリングモニタ装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 武彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-013517
公開番号(公開出願番号):特開平6-229892
出願日: 1993年01月29日
公開日(公表日): 1994年08月19日
要約:
【要約】【目的】本発明は、詰りが発生してもシリコン薄膜の破壊を未然に防止することによって、詰り解消のための処置時間を減少させることができる生体分析装置等に用いるサンプリングモニタ装置を提供することを目的とする。【構成】本発明に係るサンプリングモニタ装置は、サンプリング経路内に圧力差を発生させてサンプルを流通させる圧力ポンプ9と、サンプリング経路の一部に設けられサンプルの流圧を検出することによってこの流通状態を監視する圧力センサ3と、このセンサ3の検出値が予め設定している所定値範囲から外れたときに圧力ポンプ9の動作を停止させる手段とを具備することを特徴とする。
請求項(抜粋):
サンプリング経路内に圧力差を発生させてサンプルを流通させる圧力手段と、前記サンプリング経路の一部に設けられ前記サンプルの流圧を検出する圧力センサと、前記センサの検出値が予め設定している所定値範囲から外れたときに前記圧力手段を停止させる手段とを具備することを特徴とするサンプリングモニタ装置。
IPC (5件):
G01N 1/14
, G01N 1/00 101
, G01N 1/00
, G01N 35/04
, G01N 35/06
引用特許:
審査官引用 (10件)
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特開昭61-260165
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特開昭60-207062
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特公平3-040343
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特開昭63-075565
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特公平1-021911
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特開昭62-228953
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特開昭61-117455
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特公平2-061709
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特開平2-184762
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ノズルの詰まり検知装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-258184
出願人:株式会社日立製作所
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