特許
J-GLOBAL ID：200903016789477271
不良位置検査方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-005405
公開番号（公開出願番号）：特開平10-193576
出願日： 1997年01月16日
公開日（公表日）： 1998年07月28日
要約：
【要約】【課題】高速で搬送される素材に不良部分が存在した場合に、不良部分の位置、個数などの情報を伝達することができる不良位置検査方法およびその装置を提供することを目的としたものである。【解決手段】連続的に高速で搬送されるフィルム状素材の不良位置を検査し、検査結果を伝達する不良位置検査方法であって、検査開始、終了位置を確定する開始、終了確定工程と、不良部分の位置を検査し抽出する抽出工程と、基準位置を確定する基準確定工程と、抽出工程により抽出された不良部分の位置と基準確定工程により確定された基準位置とから不良部分の位置を確定する確定工程、上記各情報を次工程に伝達する伝達工程を含むことを特徴とする不良位置検査方法と、この方法を用いた装置である。
請求項（抜粋）：
連続的に高速で搬送されるフィルム状素材の不良位置を検査し、検査結果を伝達する不良位置検査方法において、検査開始位置を確定する開始確定工程と、不良部分の位置を検査し抽出する抽出工程と、基準位置を確定する基準確定工程と、抽出工程により抽出された不良部分の位置と基準確定工程により確定された基準位置とから不良部分の位置を確定する確定工程と、を含むことを特徴とする不良位置検査方法。
IPC (4件)：
B41F 33/14
, B41F 33/02
, B65H 26/00
, G01N 21/89
B41F 33/14 G
, B41F 33/02 Z
, B65H 26/00
, G01N 21/89 A
