特許
J-GLOBAL ID：200903016811360553
振動解析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-025505
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221107
出願日： 1999年02月02日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：
【要約】【課題】 コピー機、レーザープリンター、FAX等の光学機器に用いられる光書き込みユニットなどの設計において機械的挙動に伴う光学性能への影響を評価する振動解析装置において、具体的な装置構成を提示するとともに、特にユニット内に照射される光線と測定系の位置関係を正確に把握でき、振動系と測定系および投光系とを構造的に分離することで振動による光学部品、筐体の変形のみを分離して測定できる振動解析装置を提供する。【解決手段】 測定のための振動をおこさせる振動ユニットと、振動の影響を測定する測定ユニットと、測定のための光源を有する投光ユニットと、を備え、前記振動ユニットと前記測定ユニットおよび前記投光ユニットとを分離した構造とする。
請求項（抜粋）：
光学機器の機械的挙動に伴って発生する光学性能への影響を評価するための振動解析装置において、前記測定のための振動をおこさせる振動ユニットと、前記振動の影響を測定する測定ユニットと、前記測定のための光源を有する投光ユニットと、を備え、前記振動ユニットと前記測定ユニットおよび前記投光ユニットとを分離構造としたことを特徴とする振動解析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/00 M
, G01M 11/08
