特許

J-GLOBAL ID：200903016822070301

マハラノビス距離を利用した異常原因診断方法及びプログラム

発明者： 田口 玄一 ,  手島 昌一 ,  畦本 雅宏
出願人/特許権者： 株式会社 オーケン ,  株式会社プローブ
代理人 (1件)： 杉山 誠二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-014186
公開番号（公開出願番号）：特開2004-227279
出願日： 2003年01月23日
公開日（公表日）： 2004年08月12日
要約：

【課題】マハラノビス距離を利用したパターン認識における異常原因診断を、少ない計算処理によって実現する方法を提供する。【解決手段】診断対象の定常状態からマハラノビス空間を求めるステップと、診断しようとする対象から特徴量を抽出してマハラノビス距離(MD)を求めるステップと、予め設定した閾値とMDとを比較するステップと、MDが閾値よりも大きい場合に、距離要素値を特定するステップと、特定した距離要素値に対応する特徴量を、基準データの特徴量の平均値で置換するステップと、置換した特徴量を用いて新たにMDを求めるステップとを含み、新たに求めたMDが閾値以下になるまで、上述のステップを繰り返すことを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

マハラノビス距離を利用した異常原因診断方法であって、 診断対象の定常状態から複数の基準データを採取し、前記基準データから、前記対象のパターン認識に係わる特徴を表す量である特徴量を求め、前記特徴量を規準化し、前記規準化した特徴量の相関を表す相関係数を下記の式(1)

IPC (2件)：

G06F17/15 ,  G01D21/00

FI (2件)：

G06F17/15 ,  G01D21/00 Q

Fターム (11件)：

2F076BA17 ,  2F076BA18 ,  2F076BD07 ,  2F076BD11 ,  2F076BE04 ,  2F076BE06 ,  2F076BE08 ,  2F076BE09 ,  5B056BB22 ,  5B056BB37 ,  5B056BB42