対応点探索方法および装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：久保幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-329128
公開番号（公開出願番号）：特開2001-148012
出願日： 1999年11月19日
公開日（公表日）： 2001年05月29日
要約：

【要約】【課題】対応点探索における精度を向上させること。【解決手段】2つの画像について互いの対応点を求める方法であって、a)2つの画像について多重解像度画像を作成するステップ、および、b)多重解像度画像について、解像度の低い画像から順に、各解像度の画像に対して実行した結果を次の解像度の画像に対して実行する際に用いて、次のすべてのステップを各画像に対して実行するステップ、(b1)各画像における対応ベクトルを勾配法により求めるステップ、(b2)求められた対応点の信頼性を判定するステップ、(b3)信頼性の低い対応点について、その周辺の対応点の対応ベクトルを用いて修正を行うステップ、を有してなる。

請求項（抜粋）：

2つの画像について互いの対応点を求める方法であって、対応点を求めるステップ、求められた対応点の信頼性を判定するステップ、および、信頼性の低い対応点について、その周辺の対応点の値を用いて対応点を修正するステップ、を有してなることを特徴とする対応点探索方法。

IPC (5件)：

G06T 7/00 , G01B 11/00 , G01B 11/24 , G01C 3/06 , H04N 13/00

FI (6件)：

G01B 11/00 H , G01C 3/06 V , H04N 13/00 , G06F 15/62 415 , G01B 11/24 K , G06F 15/70 330 P

Fターム (54件)：

2F065AA04 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065CC16 , 2F065EE00 , 2F065EE08 , 2F065FF06 , 2F065JJ03 , 2F065QQ03 , 2F065QQ13 , 2F065QQ17 , 2F065QQ18 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065QQ32 , 2F065QQ33 , 2F065QQ36 , 2F065QQ42 , 2F112AC04 , 2F112BA06 , 2F112CA08 , 2F112CA12 , 2F112FA03 , 2F112FA07 , 2F112FA21 , 2F112FA32 , 2F112FA36 , 2F112FA41 , 2F112FA45 , 5B057CA01 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB01 , 5B057CB02 , 5B057CB08 , 5B057CB13 , 5B057CB16 , 5B057CB18 , 5B057CC01 , 5B057CD05 , 5B057CD20 , 5B057CH01 , 5C061AB04 , 5C061AB12 , 5C061AB21 , 5L096AA06 , 5L096AA09 , 5L096CA05 , 5L096EA03 , 5L096EA23 , 5L096GA32

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