特許
J-GLOBAL ID：200903016866814200

眼位置測定装置

発明者：
細井 良晋

細井 良晋 について


出願人/特許権者：
株式会社ニデック

株式会社ニデック について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-043965
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241118
出願日： 1999年02月22日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：
【要約】【課題】 適切な眼鏡調整ができるように、被検者の使用環境に応じた状態で被検者の眼の位置を正確に測定できる眼位置測定装置を提供する。【解決手段】 被検者眼を注視させるための注視目標を持ち該注視目標の呈示距離を光学的に変化させる注視目標呈示光学系と、被検者の両眼を含む前眼部を撮像するための撮像手段を持ち該撮像手段による撮影距離を光学的に変化させて前記注視目標と略同一位置から撮像する撮像光学系と、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて被検者の眼位置を測定する測定手段とを備える
請求項（抜粋）：
被検者眼を注視させるための注視目標を持ち該注視目標の呈示距離を光学的に変化させる注視目標呈示光学系と、被検者の両眼を含む前眼部を撮像するための撮像手段を持ち該撮像手段による撮影距離を光学的に変化させて前記注視目標と略同一位置から撮像する撮像光学系と、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて被検者の眼位置を測定する測定手段と、を備えることを特徴とする眼位置測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/00 ,  A61B 3/11
FI (2件)：
G01B 11/00 H ,  A61B 3/10 A
Fターム (19件)：
2F065AA02 ,  2F065AA07 ,  2F065AA22 ,  2F065AA32 ,  2F065CC00 ,  2F065DD03 ,  2F065EE05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF61 ,  2F065FF65 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL07 ,  2F065LL12 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ35 ,  2F065SS13
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 特許第2567642号
  • 眼科装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-190688   出願人：株式会社ニデック
  • 手持ち型検眼装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-089322   出願人：株式会社ニコン

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