特許

J-GLOBAL ID：200903016870677420

電解コンデンサの検査装置およびこれを用いた検査方法

発明者： 藤山 輝巳 ,  有近 隆司
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-156128
公開番号（公開出願番号）：特開2000-348990
出願日： 1999年06月03日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
要約：

【要約】【課題】 電解コンデンサの使用条件によってまれにしか出ない陽極箔および陰極箔の裁断バリの脱落部によるショートを電解コンデンサの初期検査で発見して電解コンデンサの品質を高めることができる電解コンデンサの検査装置およびこれを用いた検査方法を提供することを目的とするものである。【解決手段】 インラッシュ電流供給コンデンサC1と、このインラッシュ電流供給コンデンサC1を充電する電源PS1とバックアップコンデンサC2を設け、バックアップコンデンサC2とインラッシュ電流供給コンデンサC1の間に直列に充電抵抗R2を具備した検査装置で、供試電解コンデンサCsをインラッシュ電流を印加してその電圧または電流の変化を検査することにより、極希にしか出ない陽極箔および陰極箔の裁断バリの脱落部によるショートを発見することができ、高品質の電解コンデンサが得られる。

請求項（抜粋）：

供試電解コンデンサに抵抗を介して並列に配置したインラッシュ電流供給コンデンサと、このインラッシュ電流供給コンデンサを充電する電源とバックアップコンデンサを設け、バックアップコンデンサとインラッシュ電流供給コンデンサの間に直列に充電抵抗を具備した電解コンデンサの検査装置。

IPC (2件)：

H01G 13/00 371 ,  G01R 31/00

FI (2件)：

H01G 13/00 371 C ,  G01R 31/00

Fターム (16件)：

2G036AA22 ,  2G036BB02 ,  2G036CA12 ,  5E082AA07 ,  5E082AB04 ,  5E082AB09 ,  5E082BC36 ,  5E082BC38 ,  5E082GG04 ,  5E082KK04 ,  5E082MM24 ,  5E082MM35 ,  5E082MM38 ,  5E082PP01 ,  5E082PP05 ,  5E082PP06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭54-126649
  
• 特開昭54-136649
  
• 特開昭54-136649
  
• 特開昭54-126649