特許
J-GLOBAL ID:200903016914171635

X線検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-370871
公開番号(公開出願番号):特開2001-186512
出願日: 1999年12月27日
公開日(公表日): 2001年07月06日
要約:
【要約】【目的】大きな画像受光面積を有し、高速画像処理が可能で、撮像系の大きさが低減可能で、コストの低いX線検査装置を提供する。【解決手段】複数のCCDセンサ3a〜3dを用い、X線を照射して得た非検査体のX線像に対応する画像11a〜11dを画像処理して画像合成部14で合成画像を出力するX線検査装置において、複数のラインメモリを含む複数のメモリを有するメモリバンクA12a〜12dと、複数のラインメモリを含む複数のメモリを有するメモリバンクB13a〜13dと、メモリバンクA,Bから所定の順で画像を読み出して画像を合成するメモリ制御装置15とを有し、メモリバンクA,Bのそれぞれに、交互に画像を書き込み、画像を読み出すことで、画素数が多く解像度の高い画像を得ることのできるX線検査装置を、低コストで提供する。
請求項(抜粋):
X線源からX線が照射されることで得られる非検査体のX線画像を可視像に変換するための放射線変換手段を備えたX線-可視像変換手段と、このX線-可視像変換手段の出力画像を電子画像に変換する複数個のレンズ系とそれぞれのレンズ系に対応するCCDセンサと、前記電子画像から合成画像を生成し、映像信号を出力するための画像処理装置と、を有するX線検査装置において、前記画像処理装置は、前記複数のCCDセンサからの電子画像を、少なくとも対に形成されているメモリを含む複数のメモリバンクに書き込み、個々のメモリバンクのそれぞれの対をなすメモリから交互に読み出して合成することを特徴とするX線検査装置。
IPC (6件):
H04N 7/18 ,  A61B 6/00 360 ,  G06T 1/00 ,  H04N 5/225 ,  H04N 5/265 ,  H04N 5/321
FI (7件):
H04N 7/18 L ,  H04N 7/18 V ,  A61B 6/00 360 B ,  H04N 5/225 C ,  H04N 5/265 ,  H04N 5/321 ,  G06F 15/62 390 A
Fターム (65件):
4C093AA01 ,  4C093CA29 ,  4C093CA32 ,  4C093EB02 ,  4C093EB12 ,  4C093EB18 ,  4C093FF02 ,  4C093FF08 ,  4C093FF16 ,  4C093FF35 ,  4C093FF37 ,  4C093FH02 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057BA11 ,  5B057BA15 ,  5B057BA19 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE08 ,  5B057CE09 ,  5B057CE10 ,  5B057CH11 ,  5B057CH18 ,  5B057CH20 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DA16 ,  5C022AA01 ,  5C022AA15 ,  5C022AB61 ,  5C022AC01 ,  5C022AC42 ,  5C022AC69 ,  5C023AA11 ,  5C023BA11 ,  5C023DA04 ,  5C024AA12 ,  5C024AA14 ,  5C024CA07 ,  5C024CA11 ,  5C024EA04 ,  5C024FA13 ,  5C024GA11 ,  5C024HA14 ,  5C024HA24 ,  5C024HA27 ,  5C054CA02 ,  5C054CC00 ,  5C054CC05 ,  5C054EA01 ,  5C054EB05 ,  5C054FD02 ,  5C054FE11 ,  5C054FF02 ,  5C054GA04 ,  5C054GD09 ,  5C054HA05

前のページに戻る