特許
J-GLOBAL ID:200903016919725205

合金化めっき層の合金化度測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森 道雄 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-178326
公開番号(公開出願番号):特開平9-033455
出願日: 1995年07月14日
公開日(公表日): 1997年02月07日
要約:
【要約】【構成】母材表面のめっき層側に形成された複数層の合金相を有する合金化めっき金属板にX線を照射し、得られる回折線強度を用いて合金化めっき層の合金化度を測定するに際し、試験材(例えば、合金化溶融亜鉛めっき鋼板58)の前記各合金相及び前記母材の所定の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値(X線強度計数管51〜56で測定される)と、予め求めておいた前記試験材と同一めっき層構造の基準材についての前記所定の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、回折X線の理論強度式とを用い、試験材の合金化度を求める。【効果】従来に比べ基準材を少なくすることが可能で、分析の準備に要する費用及び時間を減少させることができ、かつ正確に合金化度を求めることができる。また、この方法は、オンラインで迅速に分析を行う方法として好適である。
請求項(抜粋):
母材表面のめっき層側に母材及びめっき層を構成する元素によって形成された複数層の合金相を有する合金化めっき金属板にX線を照射し、得られる回折線強度を用いて合金化度を測定する合金化めっき層の合金化度測定方法において、試験材の前記各合金相及び前記母材の所定の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、予め求めておいた前記試験材と同一めっき層構造の基準材についての各合金相及び母材の前記試験材と同一の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、回折X線の理論強度式とを用い、前記試験材の前記合金化度を求めることを特徴とする合金化めっき層の合金化度測定方法。

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