特許
J-GLOBAL ID：200903016993131864
品質不良の原因解析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢葺 知之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-311140
公開番号（公開出願番号）：特開2003-114713
出願日： 2001年10月09日
公開日（公表日）： 2003年04月18日
要約：
【要約】【課題】 製品の品質不良原因をプロセス変数に帰する方法において、多数のプロセス変数が存在し互いに相関をもつプロセス変数が含まれる場合でも、どのプロセス変数がプロセス異常や品質不良の原因であるかを直ちに示すこと。【解決手段】 プロセスデータを検索・収集し、主成分分析を利用して、残差変数と距離変数を計算する。残差変数が許容範囲を外れていたときは、残差変数への各プロセス変数の寄与度を計算・比較して、寄与度の大きいプロセス変数を品質不良の原因の候補として抽出する。距離変数が許容範囲を外れていたときは、距離変数への各スコア変数の寄与度を計算・比較して、寄与度の大きいスコア変数を品質不良の原因の候補として抽出する。さらにこのとき、抽出されたスコア変数への各プロセス変数の寄与度を計算・比較し、抽出されたスコア変数に寄与度の大きいプロセス変数を最終的な品質不良の原因の候補として抽出する。
請求項（抜粋）：
製品の品質に基づき製造プロセスを解析する方法であって、品質不良と指定した製品と同品種の製品に関する、プロセスデータを検索・収集する工程と、収集した同品種の製品のプロセスデータから主成分分析を利用して、プロセス変数の線形結合であるスコア変数を得る工程と、残差変数を計算し、前記残差変数が前記プロセスの正常な許容範囲内にあるかを判断する工程と、前記指定した製品が残差変数の許容範囲を外れていたとき、残差変数の値への各プロセス変数の寄与度を計算する工程と、各プロセス変数の寄与度を比較して、残差変数の値に主に寄与しているプロセス変数を品質不良の原因の候補として抽出する工程と、前記指定した製品が残差変数の許容範囲を外れていないとき、距離変数を計算し、前記距離変数が、前記プロセスの正常な許容範囲内にあるかを判断する工程と、前記指定した製品が距離変数の許容範囲を外れていたとき、距離変数の値への各スコア変数の寄与度を計算する工程と、各スコア変数の寄与度を比較して、距離変数の値に主に寄与しているスコア変数を品質不良の原因の候補として抽出する工程と、候補として抽出されたスコア変数への各プロセス変数の寄与度を計算する工程と、前記の抽出されたスコア変数に主に寄与しているプロセス変数を品質不良の原因の候補として抽出する工程と、からなることを特徴とする品質不良の原因解析方法。
IPC (6件)：
G05B 23/02
, G06F 17/10
, G06F 17/15
, G06F 17/18
, G06F 17/60 108
, G06F 17/60 150
G05B 23/02 P
, G06F 17/10 Z
, G06F 17/15
, G06F 17/18 Z
, G06F 17/60 108
, G06F 17/60 150
5B056BB00
, 5B056BB71
, 5B056HH00
, 5H223AA01
, 5H223BB01
, 5H223FF01
, 5H223FF06
