特許
J-GLOBAL ID：200903016993375542
基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-322817
公開番号（公開出願番号）：特開平7-174519
出願日： 1993年12月21日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：
【要約】【目的】 検査を確実に行いつつ検査時間の短縮を図る。【構成】 カメラにより電子部品実装基板の表面を複数の区間に分けて撮像し、その撮像結果から電子部品の実装状態を認識するものであって、複数の撮像カメラが撮像方向に沿って並設され、この各撮像カメラが基板に対し相対移動し得るようになっている。基板に対する各カメラの視野のうち撮像方向に沿う辺の長さに対し、同じく撮像方向に沿う各視野間の間隔が同一か又は小さくなるように設定されている。各区間毎に複数のカメラによる撮像をほぼ同時に並列的に行うように制御している。各区間毎の撮像後に各カメラをその並設方向に沿って前記各視野間の間隔だけ移動させて各区間毎の視野間の境界で交差部ができるように制御している。従って、両カメラは撮像と画像処理において同時進行し、かつ撮像漏れも防止する。
請求項（抜粋）：
カメラにより電子部品実装基板の表面を複数の区間に分けて撮像し、その撮像結果から電子部品の実装状態を認識する検査装置において、撮像方向に沿って並設した複数の撮像カメラと、基板に対する各カメラの視野のうち撮像方向に沿う辺の長さに対し、同じく撮像方向に沿う各視野間の間隔を同一か又は小さくするように設定する手段と、各撮像カメラと基板とを相対移動させる駆動手段と、各区間毎に複数のカメラによる撮像をほぼ同時に並列的に行うとともに、各カメラによる撮像結果の画像処理をほぼ同時に並列的に行う制御手段と、各区間毎の撮像後に各カメラをその並設方向に沿って前記各視野間の間隔だけ移動させて各区間毎の視野間の境界で交差部ができるように前記駆動手段を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置。
IPC (4件)：
G01B 11/00
, G06F 11/22 330
, G06T 7/00
, G06T 1/00
G06F 15/62 405 B
, G06F 15/64 325 H
