特許

J-GLOBAL ID：200903017000229143

容器内粒子の挙動シミュレーション方法及び挙動シミュレーション装置

発明者： 山下 倫弘 ,  辻 裕 ,  田中 敏嗣 ,  川口 寿裕
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-067001
公開番号（公開出願番号）：特開平10-260160
出願日： 1997年03月19日
公開日（公表日）： 1998年09月29日
要約：

【要約】【課題】 粉粒体を収容した容器内での混合撹拌操作に伴う各粒子の電荷移動量及び静電気帯電量を予測及び把握し、最適制御設計のための指標を供出し得る容器内粒子の挙動シミュレーション方法及びシミュレーション装置を提供する。【解決手段】 容器内に収容された粒子の経時位置を、容器形状、混合撹拌条件、粒子の物理的特性値、容器壁面の物理的特性値に基づいて求める。容器内での混合撹拌の操作に起因して生ずる粒子の経時位置に基づく静電気帯電量を、粒子間及び粒子-容器壁面間の接触に起因する電荷移動量に基づいて求める。静電気帯電量の異なる粒子10・11間及び粒子13・14間並びに粒子-容器壁面間の接触による電荷移動の際には、電荷の絶対値の大きい方から小さい方へと電荷が移動するとして求める。求めた粒子の経時位置及び静電気帯電量を表示する。

請求項（抜粋）：

容器内に収容された粒子の経時位置を、容器形状、混合撹拌条件、粒子の物理的特性値、及び容器壁面の物理的特性値に基づいて求めて表示する容器内粒子の挙動シミュレーション方法において、上記容器内での混合撹拌の操作に起因して生ずる粒子の経時位置に基づく静電気帯電量を、粒子間及び粒子-容器壁面間の接触に起因する電荷の移動量に基づいて求めると共に、静電気帯電量の異なる粒子間及び粒子-容器壁面間の接触による電荷移動の際には、電荷の絶対値の大きい方から小さい方へと電荷が移動するとして求めることを特徴とする容器内粒子の挙動シミュレーション方法。

IPC (3件)：

G01N 27/60 ,  G03G 15/08 507 ,  G06F 17/00

FI (3件)：

G01N 27/60 F ,  G03G 15/08 507 Z ,  G06F 15/20 D