特許

J-GLOBAL ID：200903017033999360

パターン認識装置

発明者： 嶺 直道
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 中村 茂信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-328327
公開番号（公開出願番号）：特開平10-171986
出願日： 1996年12月09日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 輪郭部(重みの大きな部分)において方向が似る2つのモデルと比較する場合でも、入力画像をいずれであるかを精度良く認識する。【解決手段】 濃度勾配正強度算出部19において、2つのモデル濃度勾配正強度が算出され、メモリ11に記憶される。次に、濃度勾配負強度算出部20において、2つのモデル濃度勾配負強度が算出され、メモリ11に記憶される。次に、メモリ11に記憶されている各々のモデル濃度勾配正強度、モデル濃度勾配負強度、モデル濃度勾配方向及び入力濃度勾配方向を用いて、分離類似度算出部21において分離類似度が算出される。算出された2つの分離類似度(SR1とSR2)のうち、より大きな値を示す分離類似度に対応するモデルと入力画像が一致するとの判断が、CPU8においてなされる。

請求項（抜粋）：

複数のモデルのうち、より入力画像に類似するモデルを選択するパターン認識装置において、最も大きな類似度と2番目に大きな類似度の差が所定のしきい値よりも小さい場合に、2つのモデルについて、入力画像の各画素における濃度勾配方向Iθ(x,y) を求める濃度勾配方向算出手段と、この入力画像の濃度勾配方向Iθ(x,y) と、各モデルの対応する画素の濃度勾配方向Mθ(x,y) との間で、濃度勾配方向の差異を評価する値f{Iθ(x,y) ,Mθ(x,y) }を求める濃度勾配方向評価値算出手段と、この評価値に、前記各モデルより得られる第1の重みM+ w (x,y) で重み付けし、重み付けした評価値を加算後、加算した評価値を第1の重み合計で除算することにより第1の評価値を算出する手段と、前記各モデルより得られる第2の重みM- w (x,y) で重み付けし、重み付けした評価値を加算後、加算した評価値を第2の重み合計で除算することにより第2の評価値を算出する手段と、第1の評価値と第2の評価値の差を前記各モデルの類似度とする手段と、前記各モデルの類似度を比較し、類似度の大きい方のモデルを入力画像に対応するパターンとするパターン認識手段と、を備えることを特徴とするパターン認識装置。